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Product CenterTUV756紫外可見分光光度計(掃描型)波長范圍:190-1100nm 波長準確度:±0.5nm波長重復性:0.2nm光譜帶寬:2nm透射比準確度:±0.5%T透射比重復性:0.2%T
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產地類別 | 國產 | 應用領域 | 環保 |
TUV756紫外可見分光光度計(掃描型) 產品介紹:
1. 采用1200條/mm高性能光柵。新型的光源控制系統,使儀器光源切換快速。
2. 2nm帶寬,使測試數據更準確。使用長壽命光源,使儀器光源切換快速。
3.波長控制系統,使波長精度高。改良的光學系統,使測試準確。
4.光電轉換器,使儀器的靈敏度更高。
5.新型的微電腦數據處理系統。使儀器的使用簡便,穩定性也很好。
6.儀器采用128*64位點陣液晶顯示器,可直接顯示標準曲線和測試數據,主機可存儲測試數據,并可選配打印機;
UV756CRT型紫外可見分光光度計在UV756的基礎上增加了全波段自動掃描功能和連接微機功能。
TUV756紫外可見分光光度計(掃描型) 儀器參數:
波長范圍:190-1100nm
波長準確度:±0.5nm
波長重復性:0.2nm
光譜帶寬:2nm
透射比準確度:±0.5%T
透射比重復性:0.2%T
光度范圍:-3~3A ,0-200%T,0~9999C
基線平直度:±0.001A/h
雜散光:0.05%T@220nm、360nm
穩定性:±0.001A/小時 @500nm
顯示方式:128*64位點陣液晶顯示
Rs232通訊:USB接口
打印機:選配
分析軟件:支持
自動八聯比色池:選配
光學系統:雙光束比例監測
噪聲水平:±0.001A/2min@500nm