15101169516
產品中心
Product Center
產品簡介
HAAS-2000 高精度快速光譜輻射計（實驗室級）的快速光譜輻射計。*美國IESNA LM-79和中國GB/T 24824等標準要求。 可實現LED的瞬態光學特性測量（脈沖測量）及穩態光學特性測量（直流測量）。 國家863計劃研究成果，獲美國授權（號：US 7,978,324 B2），“*批自主創新產品"，“國家重點新產品"榮譽。
product
產品分類article
相關文章HAAS-2000 高精度快速光譜輻射計（實驗室級）
一、產品選型表：
規格 項目 | HAAS-2000 | ||||||
UV | VIS | UVIS | VIR | UVIR | IR1 | IR2 | |
波長測量范圍 | 200-400nm | 380-780nm | 200-800nm | 350-1100nm | 200-1200nm | 780-1650nm | 1500-2550nm |
光學帶寬 | 1nm | 2.0nm | 4nm | 4nm | 5nm | 9nm | 15nm |
波長準確度 | ±0.1nm | ±0.3nm | ±0.3nm | ±0.3nm | ±0.3nm | ±0.5nm | ±3nm |
二、基本工作原理：
世界*高精度快速光譜輻射計一般由凹面平均衍射光柵和科學級CCD構成，世界上也只有極少數制造商能夠提供如此高精度的CCD和光柵。然而實踐證明即便是世界*的商用凹面平場衍射光柵和世界*的商用科學級CCD，在系統光學耦合匹配方面仍存在一定不足，遠方公司在高精度快速光譜儀方面積累了豐富經驗，改良了CCD與光柵的匹配設計，使整個系統的光學匹配更趨*，系統所獲得的光譜更純，線性更好。此外，遠方公司采用的雜散光控制技術、寬動態線性技術、精密CCD電子驅動技術和復變矩陣軟件技術，并成功應用了帶通色輪校正技術（BWCT）、分光積分結合技術（SBCT），以及修正的NIST雜散光校正技術等多項技術，整個系統實現了*的5.00E-05的極低雜散光水平（在A光源嚴格條件下）和0.3%的全動態光度線性性能。關鍵技術指標在處地位。
HAAS-2000 高精度快速光譜輻射計（實驗室級）
當前位置：
上一個：
返回列表
